扫描是快速有效采集大量数据点的有效方法，而高性能的扫描从未像现在这样值得拥有。

技术的进步带给人类的是一个更加精彩纷呈的世界，要求测量技术以更高的精度、更快的效率加以描绘。扫描技术正是在这一背静下发展起来的，凭借高效采集大量数据点，实现了对于复杂形状的精确测量与评价。

今天，扫描技术在新一代的Global系列测量机上得到进一步发扬，无论是确定复杂形状的形状误差，还是进行自由形状曲面的验证，以及完成箱体类零件尺寸和位置的测量与分析，通过扫描技术所获得的更多数据点，为工件的准确测量和快速分析提供了依据。

先进的运动控制技术

先进的运动控制技术是精确扫描测量的基础。Global 控制系统所提供的先进算法与 LSP 系列扫描测头的完美配合，使得Global 测量机具备了优异的高精度扫描功能。

可变高速扫描技术 (VHSS)

该运动控制的算法是 Global 扫描性能的基础。VHSS 技术通过不断监控输入量的变化，如优化的曲率等来动态管理探测的速度与加速度，从而保证了快速、平滑的扫描轨迹。另外，VHSS 技术允许在单一扫描路径时数据采集密度可变，这样在曲率大的情况下采集点密度要高，而在曲面变化少的情况下，采集的点数就要少，避免了在曲面变化不大的情况下采集大量不必要的数据点。

控制系统的 Observer 技术

Observer 技术不断动态更新实际的扫描路径以计算实际曲面与名义曲面的微小偏差，从而实时监控测头的偏转。该技术还保证了测头始终与工件表面保持接触状态，以提升检测效率。

行业领先的计量软件

将扫描技术成功的应用于测量的实践，需要将先进的硬件技术与高性能的测量软件相结合Global 测量机，配备业界知名的测量软件 - PC-DMIS， 具有强大而全面的扫描功能，并可柔性支持各种扫描探测系统。

根据被扫描特征或者扫描工件的不同，PC-DMIS 提供高达 15 种内置扫描方法。对于实现已知几何特征的扫描，PC-DMIS支持圆、线、中心及圆柱等的快速扫描方法，并对于更复杂的自由形状曲面或非规则路径测量提供了周边、开线、闭线、曲面、旋转等扫描方法。

PC-DMIS 的数据处理和 GD&T 评价分析功能一直是业界的领先者。其强大的构造筛选功能能够完美处理点云数据；GD&T 轮廓分析处理功能尤其强大，既能够相对 CAD 理论值做出点云的色差图分析，也可以提供三维或二维的曲线/曲面轮廓度统计分析，全面而且直观，并可产生定制的图形化用户报告。

LSP系列扫描测头 形状的真实再现

LSP 系列扫描测头，为高精度和高效率的三坐标测量机提供了专业的扫描解决方案。快速而又精确，即使在携带超长加长杆的情况下。这些高精度扫描测头是检验精密加工件和复杂几何形状的理想工具。

• 真正的三维探测
• 无电机＝无热源
• 结构坚固＝维护容易
• 支持超长探针
• 具备自动更换探针功能
• 具备碰撞保护功能

LSP 系列扫描测头，秉承 Leitz 经过广泛验证的扫描技术之精华，提供了真正的三维探测技术。

采用高分辨率的线性可变微分传感器 (LVDT) 进行测量，LSP 系列扫描测头可实时测量和修正探针的挠度，消除了余弦误差。这对于加长探针或扫描复杂形状工件，如齿轮、转子、叶片时尤其重要，确保了更高的测量精度和效率。

LSP系列扫描测头能够支持所有的探测模式，如：单点探测、自定心测量以及连续高速扫描，以完成快速精确的轮廓和外形测量任务。

应用于 Global 测量机上的 LSP 系列主要包括具备四种型号：LSP-X5、LSP-X3、LSP-X1和 LSP-X1c。

LSP-X5 与 LSP-X3 高性能固定式扫描测头：

分别能够携带长达 500mm 和 360mm 以及重量达 500g 和 150g 的探针和加长杆，是完成高精度机械类零件和复杂几何形状测量的理想工具。

LSP-X1可旋转扫描测头：

集触发与扫描测量功能为一身，为测量系统提供了足够的灵活性。可利用模拟扫描技术，完成特征形状的扫描，利用触发技术，实现了对特征尺寸和位置的快速测量。LSP-X1测头，配备 TESASTAR-m 或 TESASTAR-sm 自动分度测座，为高速扫描测量提供了足够的灵活性。

LSP-X1c 固定式扫描测头：

源于 LSP-X1 的设计技术，采用主轴固定安装的方法，为扫描测量提供了更实用的选择。