<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<!DOCTYPE wml PUBLIC "-//WAPFORUM//DTD WML 1.1//EN" "http://www.wapforum.org/DTD/wml_1.1.xml">
<wml>
<head><meta forua="true" http-equiv="Cache-Control" content="max-age=0" /></head>
<card title="怎样选择合适的探测系统？" id="card1">
<p> 游客</p><p>
标题:怎样选择合适的探测系统？<br/>
正文:<br/>
为测量任务选择合适的探测系统并不总是一件容易的事。为获得有效的投资回报，最好的方式是从确定工件所需的应用、灵活性和测量范围开始。 选择测头的几点考虑： 1. 在可以应用接触式测头的情况下，慎选非接触式测头； 2. 在只测尺寸、位置要素的情况下尽量选接触式触发测头； 3. 考虑成本又能满足要求的情况下，尽量选接触式触发测头； 4. 对形状及轮廓精度要求较高的情况下选用扫描测头； 5. 扫描测头应当可以对离散点进行测量；考虑扫描测头与触发测头的互换性(一般用通用测座来达到)； 6. 易变形零件、精度不高零件、要求超大量数据零件的测量，可以考虑采用非接触式测头； 7. 要考虑软件、附加硬件(如测头控制器、电缆)的配套。 1. 选用触发测头的场合 当零件所被关注的是尺寸(如小的螺纹底孔)、间距或位置，而并不强调其形状误差(如定位销孔)，或你确信你所用的加工设备有能力加工出形状足够好的零件，而注意力主要放在尺寸和位置精度时，接触式触发测量是合适的，特别是对于离散点的测量。 触发式测头测尺寸、间距或位置比扫描测头快，触发测头体积较小，当测量空间狭窄时测头易于接近零件。 一般来讲触发式测头使用及维修成本较低；在机械工业中有大量的几何量测量，所关注的仅是零件的尺寸及位置，所以目前市场上的大部分测量机，特别是中等精度测量机，仍然使用接触式触发测头。 2. 选用扫描测头的场合 应用于有形状要求的零件和轮廓的测量：扫描方式测量的主要优点在于能高速的采集数据，这些数据不仅可以用来确定零件的尺寸及位置，更重要的是能用众多的点来精确的描述形状、轮廓，这特别适用于对形状、轮廓有严格要求的零件，该零件形状直接影响零件的性能(如叶片、椭圆活塞等)；也适用于你不能确信你所用的加工设备能加工出形状足够好的零件，而形状误差成为主要问题时的情况。 高精度测量：由于扫描测头对离散点测量是匀速或恒测力采点，其测点精度可以更高。 同时，扫描测头可以直接判断接触点的法矢，对于要求严格定位、定向测量的场合，扫描测头对离散点的测量也具有优势。 对于未知曲面的扫描，亦即称为数字化的场合下，扫描测头显示出了它的独特优势：因为数字化工作方式时，需要大量的点，触发式测头的采点方式显得太慢；由于是未知曲面，测量机运动的控制方式亦不一样，即在&amp;ldquo;探索方式&amp;rdquo;下工作；测量机根据巳运动的轨迹来计算下一步运动的轨迹、<br/><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=18&amp;Page=1">[&lt;&lt;]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=18&amp;Page=1">[[1]]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=18&amp;Page=2">[2]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=18&amp;Page=2">[&gt;&gt;]</a><br/>
<br/>
<a href="wap.asp?act=Com&amp;id=18">查看评论(2)</a><br/>
<a href="wap.asp?act=AddCom&amp;inpId=18">发表评论</a><br/><br/>

<br/>

<br/>
<a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp">首页</a>
</p>
</card>
</wml>