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<card title="探测系统的分类及其特点" id="card1">
<p> 游客</p><p>
标题:探测系统的分类及其特点<br/>
正文:<br/>
探测系统是由测头及其附件组成的系统，测头是测量机探测时发送信号的装置，它可以输出开关信号，亦可以输出与探针偏转角度成正比的比例信号，它是坐标测量机的关键部件，测头精度的高低很大程度决定了测量机的测量重复性及精度；不同零件需要选择不同功能的测头进行测量。1、测头的分类  1.1. 触发测头与扫描测头： 触发测头(Trigger Probe)：又称为开关测头，测头的主要任务是探测零件并发出锁存信号，实时的锁存被测表面坐标点的三维坐标值。 触发测头一般发出的为跳变的方波电信号，利用电信号的前缘跳变作为锁存信号，由于前缘信号很陡，一般在微秒级，因此保证了锁存坐标值的实时性。 扫描测头(Scanning Probe)：又称为比例测头或模拟测头，此类测头不仅能作触发测头使用，更重要的是能输出与探针的偏转成比例的信号(模拟电压或数字信号)，由计算机同时读入探针偏转及测量机的三维坐标信号(作触发测头时则锁存探测表面坐标点的三维坐标值)，以保证实时的得到被探测点的三维坐标，由于取点时没有测量机的机械往复运动，因此采点率大大提高，扫描测头用于离散点测量时，由于探针的三维运动可以确定该点所在表面的法矢方向，因此更适于曲面的测量。 1.2. 接触式测头与非接触式测头： 接触式测头(Contact Probe)：需与待测表面发生实体接触的探测系统。 非接触式测头(Non-Contact Probe)：不需与待测表面发生实体接触的探测系统；例如光学探测系统、激光扫描探测系统。 2、接触式探测系统的主要组成部分及其特性 为测量任务选择合适的探测系统并不总是一件容易的事，需要从确定被测工件的类型、测量效率和测量范围开始。下面是对各种不同的探测系统及其主要应用领域进行汇总，目的在于为您的测量需要选择最适合的探测系统和传感器。 2.1. 分度测座 集成测头的手动旋转测座 特征：基本型，经济实用的集成式测头和测座系统，可以手动定位内置测头的方位，从而在空间内完成工件所有特征的测量。 应用：三维箱体类零件的检测 集成测头的手动分度式测座 特征：两个自由度的集成测头和测座系统，允许以设定的可重复分度在空间内手动定位其内置的测头，提高了手动和机动测量机的灵活性。 应用： 三维箱体类零件的检测 自动可分度测座 特征：两个自由度的测座，可在空间内以良好的重复性自动定位测头，能够自动更换测量传感器，旋转后<br/><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=9&amp;Page=1">[&lt;&lt;]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=9&amp;Page=1">[[1]]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=9&amp;Page=2">[2]</a><a href="http://www.yumhe.com/zblog/wap.asp?mode=WAP&amp;act=View&amp;id=9&amp;Page=2">[&gt;&gt;]</a><br/>
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